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当前位置:研熠科学仪器(上海)有限公司>>分子生物学>>分子杂交仪>> ECM399BTX ECM399 指数衰减波电穿孔基因导入仪

BTX ECM399 指数衰减波电穿孔基因导入仪

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:ECM399
  • 品牌:
  • 产品类别:分子杂交仪
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2023-01-06 17:28:58
  • 浏览次数:22
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研熠科学仪器(上海)有限公司

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  • 经营模式:其他
  • 商铺产品:491条
  • 所在地区:
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  • 最近登录:2023-01-05
  • 联系人:徐经理
产品简介

美国BTX是专业的细胞融合、电穿孔仪的生产厂家。自从1983年起,苛求的科研工作者就已经把BTX产品作为电融合、转基因等应用领域的*仪器。除了占世界的电融合、转基因系统外,BTX的产品还包括多达25种相关的配件,其中有多种专业的电极,给用户更多的选择。BTX还在建立了技术数据库,提供超过5000份的参考目录和600多份的protocols供科研工作者免费查阅。

详情介绍

美国BTX公司自1983年成立以来,以电穿孔仪、电融合仪为主要产品,是*家生产高质量电穿孔仪器的生产厂家,开创了许多在电穿孔、电融合、转染、转化等方面的产品和技术,不仅为在此领域的研究者提供了BTX专业产品,而且拥有多至25种的配件,包括:电穿孔、电融合、活体导入配件等等,成为*专业的转基因、电融合、活体转基因仪及配件的生产厂家。

ECM® 399 是一款指数衰减波电穿孔系统,其提供的电场强度和脉冲强度是专为细菌和酵母的简单转化而设计的。在低压模式中,ECM®399也可以运用于部分哺乳动物细胞实验,是科研和教学中基本转化实验的理想选择,操作简单,易学易用(开机、设定电压、放电),经济实惠,一体化设计,便于携带。

可操作性 高、低压模式,电压精确可调
监控显示 液晶屏幕高分辨率显示电压峰值、仪器状态
安全性能 电弧淬灭功能,短路保护。
兼容性 PEP,安全台,35mm培养皿电极

技术参数

高压模式

电压

10-2500V10V调进

电阻

150Ω

电容

36μF

低压模式

电压

2-500V2V调进

电阻

151Ω

电容

1050μF

一、 仪器的安全性注意事项
1. 在工作场所提供合适的电源座,位置远离有水环境,忌在爆炸物或在可传导的污染环境里工作。
2. 由于仪器是热启动装置,在夏天开机后需预热20min以蒸发内部水蒸气,且在每次使用完毕后将电源开关及电源线拔掉以确保安全。
3. 一个人操作仪器以避免不协同对仪器造成损坏。
4. 操作仪器前,将样品准备之后再连接线路以及开机。
5. 操作池盖合上才可以操作,忌轻易触摸内部金属片。
二、 试验操作安全性
实验操作过程中不可避免会出现击穿现象,会对仪器造成很大损伤,原因有很多。为较好地维护仪器,每次实验时可先用空样品(只有缓冲液)进行试打,以检验仪器安全性和所用缓冲液的纯度,如发现有电穿情况要立刻停止操作分析原因在进行试验。
电爆现象:初始设置参数与反馈参数不*,反馈值都会很大幅度的降低。
发生电穿的可能原因:
1. 设置参数出现错误:场强与电压的关系,公司提供的参考数据是场强需经换算。
  E=v/c(c为电极杯的间隙)
2. 操作池内部要始终保持干燥。
3. 如果公司提供的步骤上要求要达到某种冷冻温度和时间一定要按要求进行。
4. 电极杯和缓冲液不要有杂质。(主要来自电解质的污染)
5. 电极杯在使用之前要洗涤干净,使用时间太长则需要及时丢弃。
6. 两次操作时间间隔大于1min,以确保仪器良好散热。
高电压警告:为了实际操作和安全的原因,ECM 399在施加脉冲的过程中,请不要接触任何电缆或电极连接处,当需要连接或拆下电缆时,要检查系统不在操作中或处于备用状态。

试验操作中一些细节:
电极杯清洗流程:
电击使用之前:
1.用灭菌超纯水将电极杯反复清洗两次(尽量接触到杯内间隙,包括杯盖)
2.向电极杯中加入电击缓冲液清洗两次
3. 弃去清洗液(甩尽液体),置于超净台中紫外灭菌30min,待时间结束后则可进行试验操作(电极杯盖好盖子置于冰上等待试验用细胞)
电击结束:
1.用清水将电极杯进行冲洗
2. 用蒸馏水冲洗2-3次
3.向电极杯中加入75%酒精浸泡,置于烧杯或其他器皿中待用(若两周后仍无试验需要,则需隔两周对电极杯进行以上清洗过程)
? 选择合适的电转缓冲液,尽量是低离子浓度缓冲液,减少对电击参数的影响,以及避免爆杯。

样品体积的建议区间50-80μl
若在电击过程中出现爆杯或火花现象,原因有两个:
1. 缓冲液中离子成分太高或电极杯清洗不干净导致短路
2. 样品体积太少,造成电流太大形成短路
相应解决方法:尽量排除杂质、增加样品体积从而满足试验参数要求。

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