一、描述

ES622系列TLP脉冲IV曲线系统是一种先进的 IV 曲线表征系统，旨在高功率时域中模拟 ESD 事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM 脉冲）及监控设备（半导体、分立器件、电路模块等）。ES622相比之前的ES620，规格更高，功能更多，扩展能力更强，软件体验更佳。

传输线脉冲(TLP)测试功能旨在满足最新的 ANSI/ESD STM5.5.1 测试标准，并将高质量矩形脉冲应用于被测器件并记录器件两端的电压和电流。可绘出脉冲 IV 曲线，允许用户在纳秒级时间窗口内表征器件的瞬态响应。设备集成了先进的自动器件故障检测方法，例如：直流抽检（V 或 I）、静态 IV 曲线、熔断、击穿和偏置源波动。

VF-TLP 测试旨在模拟 CDM 速度 ESD 事件，并在高速（例如<100 ps 上升时间）ESD 瞬态下捕获 DUT 两端的电压和通过 DUT 的电流。这允许用户研究器件的响应速度和峰值钳位电压。

人体金属模型(HMM)测试功能是 IEC61000-4-2 系统级 ESD 的替代测试方法。它为低欧姆设备提供了理想标准波形的等效波形，并消除了组件或晶圆级测试的许多 IEC 枪测试问题，例如可重复性、枪尖不精确、阻抗不匹配、来自非屏蔽继电器的 EMI 干扰以及具有大接地平面和耦合平面的特殊装置等。

二、特点

• 1.可灵活配置的 TLP 脉冲 IV 曲线系统

• 2.超紧凑的设计系统

• 3.具有多线程处理能力的超快测试速度

• 4.提供 20 A、40A、50 A、100 A、125A、150 A 型号（可定制）

• 5.可用软件提供高级系统和附件监控和控制（开关寿命监视器、E-Cal 模块、示波器衰减调整）

• 6.测试功能可通过 VF-TLP、HMM、HBM、MM 选项进行扩展

• 7.多种故障自动检测方式（直流抽检（V 或 I）或 IV 扫描、熔断、击穿和偏置电流变化）

• 8.软件控制脉冲：突发、连续、IV 曲线表征

• 9.上升时间选项从 40 ps 到 1200 ns（取决于型号，可定制）

• 10.脉冲宽度选项从 1 ns 到 2000 ns（取决于型号，可定制）

注意：EOS 系列支持更长的脉冲应用，脉冲宽度从几百 ns 到几 ms。

三、应用

• ESD 性能表征

• 晶圆/封装级ESD测试

• 系统/电路模块ESD测试

• 安全操作区（SOA）测试

• 充电恢复时间测试

• 太阳能电池板二极管特性

• 触摸屏 ITO 微带线熔断和击穿测试