1.描述

TLP/VF-TLP测试系统是一种先进的IV曲线表征系统，设计用于模拟ESD事件(TLP/ VF-TLP/ HMM/ HBM/MM脉冲)和监控器件(半导体、分立器件、电路模块等)。)在高功率时域中。与之前的型号ES620和ES621相比，ES622具有更高的规格、更多的功能、更大的扩展能力和更好的软件体验。

TLP(传输线路脉冲)测试功能旨在满足最新的ANSI/ESD STM5.5.1测试标准，向器件施加高质量矩形脉冲，并记录器件两端的电压和通过器件的电流。这给出了脉冲式IV曲线，允许用户表征器件在ns时间窗口内的瞬态响应。集成了先进的自动器件故障检测方法，如DC抽查(V或I)、静态IV曲线、熔丝、击穿和偏置源波动。

VF-TLP测试旨在模拟CDM速度ESD事件，并在高速(如上升时间< 100 PS)ESD瞬态下捕捉DUT上的电压和通过DUT的电流。这允许用户研究器件的响应速度和峰值箝位电压。

HMM(人体金属模型)测试功能是IEC61000-4-2系统级ESD的替代测试方法。它为低欧姆器件提供了与理想标准波形等效的波形，并消除了元件或晶圆级测试的许多IEC电子枪测试问题，如重复性、不精确的枪尖、阻抗不匹配、来自未屏蔽继电器的EMI干扰以及具有大接地层和耦合层的特殊设置等。

2.特征

• 最可配置的TLP脉冲IV曲线系统

• 超紧凑设计系统

• 多线程处理，测试速度更快

• 20 A、40A、50 A、100 A、125A、150 A型号可供选择(可定制)

• 可用软件实现高级系统和附件监控
  (开关寿命监控器、电子校准模块、示波器衰减调节)

• 测试功能可扩展vf-TLP、CC-TLP、HMM、HBM、MM选项

• 多种自动故障检测方法
  (DC抽查(V或I)或IV扫描、熔断、击穿和偏置电流变化)

• 软件控制脉冲:突发、连续、IV曲线表征

• 上升时间选项从40 ps到1200 ns *(取决于型号，可定制)

• 脉冲宽度选项从1 ns到2000 ns *(取决于型号，可定制)

注EOS系列支持更长的脉冲应用，脉冲宽度从几百纳秒到几毫秒。

3.应用程序

• ESD性能表征

• 晶圆/封装级ESD测试

• 系统/电路模块ESD测试

• 安全操作区(SOA)测试

• 电荷恢复时间测试

• 太阳能电池板二极管特性

• 触摸屏ITO迹线保险丝和击穿测试

相关标准:

• TLP / VF-TLP选项符合ANSI/ESD STM 5.5.1

• HMM选项符合ANSI/ESD SP5.6标准

• HBM选项符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-001标准

• MM选项符合ANSI/ESDA SP5.2标准

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