Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)DektakXT
(一)、概述
布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性<5Å。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列长达四十年的表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量,在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、科学研究和材料科学领域大显身手。
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Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)DektakXT(一)、概述布鲁克DektakXT(探针式表面轮廓仪)设计,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性这一里程碑式的产品源自于Dektak系列长达四十年的表面测量技术
Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)DektakXT
(一)、概述
布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性<5Å。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列长达四十年的表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量,在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、科学研究和材料科学领域大显身手。
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