日本KETT涡流膜厚仪LH-200J
| 型号 | LH-200J | |
| 测量方式 | 涡流类型 | |
| 测量目标 | 非磁性金属上的绝缘涂层 | |
| 测量范围 | 0-800µm或32.00mils | |
| 测量精度 | 小于50μm | ±1微米 |
| 50μm以上 | ±2％ | |
| 解像度 | 小于100μm | 0.1微米 |
| 100μm以上 | 1.0微米 | |
| 符合标准 | JIS K5600-1-7，JIS H8680-2，JIS H8501 ISO2808，ISO2360，ISO2064，ISO19840 BS3900-C5，ASTM D7091-5 | |
| 统计功能 | 测量数量，平均值， 大/小标准偏差，程序段号 | |
| 探针 | 一点接触恒压型（LHP-J） | |
| 显示方式 | 数字（LCD，小显示数字为0.1µm） | |
| 外部输出 | RS-232C接口（传输速度2400bps） | |
| 电源供应 | 100 V AC（50/60 Hz）或 1.5 V电池（AA碱性）x 6打印机x 4 | |
| 尺寸图 | 120mm（宽）×250mm（深）×55mm（高） | |
| 弥撒 | 1.0公斤 | |
| 配件类 | 标准板，铝基板，标准板盒 电池1.5V（AA碱性），探头适配器 交流适配器，打印机纸，手提箱 | |
日本KETT涡流膜厚仪LH-200J
■规格型号LH-200J测量方法涡流法测量非磁性金属上的目标绝缘膜测量范围0至800µm或32.00mils测量精度小于50µm±1µm 50µm ...
0R规格型号LH-373测量方法涡流法测量目标非磁性金属上的绝缘涂层测量范围0至1200 µm或47.0 mils测量精度小于50 µm±1 µm 50 µm以上且小于1000 µm±2％1000 µm以上±3％分辨率小于100 µm 0.1微米...
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