20/30 PV™显微分光光度计是为满足您的严格需求而设计的定制仪器。强大的模块化系统结合了多种光谱技术，20/30 PV™代表了显微分光光度计的标准。
20/30 PV™具有从远紫外到近红外的光谱范围，能够通过吸光度、反射率、动力学、偏振、荧光和光致发光来测量亚微米样品的光谱，还提供拉曼、薄膜厚度测量和5D Mapping。
令人难以置信的是，该系统还能够进行高分辨率的紫外 - 可见 - 近红外成像。结合的工程进展，20/30 PV™采用了Lightblades™光谱仪，这是专门为高性能显微分光光度计设计的技术。20/30 PV™将光学、软件、硬件和Lightblades™集成到功能强大且灵活的仪器中，作为一个模块化、耐用但易于使用的系统，20/30 PV™是工具，可以得到您需要的结果。
| 光谱学类型 | 紫外-可见-近红外吸光度，反射率，荧光，光致发光，偏振 |
| 显微拉曼 | 可选Apollo II™ |
| 薄膜厚度 | ≥15nm |
| 微动力 | 可选 |
| 5D Mapping | 可选 |
| 微比色法 | 可选 |
| 光谱范围 | 200-2500nm |
| 成像范围 | 深紫外线到近红外 |
| 荧光激发 | 250-546nm |
| 荧光发射 | 300-1000nm |
| 探测器类型 | Lightblades™ |
| 探测器 | CCD和inGaAs阵列 |
| 探测器冷却 | TE制冷 |
| 光谱分辨率 | 1-15nm |
| 采样面积 | 1-10000µm² |
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