508 PV™能够与任意开放接口的显微镜或者探针台结合使用，增加光谱学、彩色成像、薄膜厚度测量和比色测量功能，非常适用于各种应用，如平板显示器上像素的比色测定、煤镜质体和岩相的反射率测量或光学和半导体的薄膜厚度测量，能够很简便快速的获得光谱和图像，甚至是数字视频。选择不同的显微镜配置，能够从微光样品中获得吸收、透射、反射、偏光和荧光显微光谱。CRAIC提供的显微镜为显微光谱仪经过特别设计，能够得到很大的光谱范围、增强的信噪比和优秀的成像能力。
508 PV™显微分光光度计所拥有的前沿技术，能用来升级老版的显微分光光度计。508 PV™采用的Lightblades™分光光度计，采用TE冷却保证长期稳定性和低噪声水平，科研级显微镜，校准的可变孔径，通用C-mount接口以及整合光谱分析、图像处理和设备控制的Lambdafire™控制软件包。设备性能稳定性，操作简便，能实现多年运行。
508 PV™参数
| 光谱学类型 | 紫外-可见-近红外吸光度，反射率，荧光，光致发光，偏振 |
| 显微拉曼 | 可选Apollo II™ |
| 薄膜厚度 | ≥15nm |
| 微动力 | 可选 |
| 5D Mapping | 可选 |
| 微比色法 | 可选 |
| 光谱范围 | 20-2100nm |
| 成像范围 | 高分辨率彩色 |
| 荧光激发 | 365-546nm |
| 荧光发射 | 400-900nm |
| 探测器 类型 | Lightblades™ |
| 探测器 | CCD和inGaAs阵列 |
| 探测器冷却 | TE制冷 |
| 光谱分辨率 | 1-15nm |
| 采样面积 | 1-10000µm² |
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