UVM-1™全光谱显微镜的设计是将紫外-可见-近红外成像技术和显微技术相结合，能够的实现紫外-可见-近红外的成像。具有前沿技术的UVM-1™全光谱显微镜结合CRAIC创新设计的光学技术，用户仅用一台显微镜就能在整个宽光谱范围内完成显微成像，无论是高分辨能力，还是光谱成像能力， UVM-1™都代表了显微成像领域的水平。

UVM-1™全光谱显微镜具有多功能系统设计，能够允许用户只在一台显微镜上获得紫外-可见-近红外的高分辨率成像和分析结果。紫外显微镜对半导体内微量异物有很高的灵敏性，相比标准的显微镜，具有更强大的的能力测量微量变化。近红外显微镜能够无损的、有选择性的对硅晶片设备内部的电子电路进行成像,这些应用知识是其众多应用领域的一小部分。 UVM-1™也可与拉曼一起提供给您更多的功能。UVM-1™全光谱显微镜灵活的设计使其在任何应用领域都能做到，堪称是一款强大的显微光谱分析工具。