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荧光寿命测定系统

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  • 更新时间:2025-04-10 16:27:19
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产品简介

荧光寿命测定系统集成型测量荧光寿命的测试系统,测量范围从亚纳秒到毫秒量级,该系统操作简单,只需要放入样品,进入测量软件界面输入测试条件,极短时间内可获得高精度的荧光寿命,光致发光光谱,整个测量过程只需要60s即可完成

详情介绍


荧光寿命测定系统


集成型测量荧光寿命的测试系统,测量范围从亚纳秒到毫秒量级,该系统操作简单,只需要放入样品,进入测量软件界面输入测试条件,极短时间内可获得高精度的荧光寿命,光致发光光谱,整个测量过程只需要60s即可完成。


测量荧光寿命
材料的荧光光谱参数对评估材料的性能非常重要,这些参数包括峰值波长,荧光强度。但是当材料含有多种物资和相互反应的元素时,仅仅获得荧光光谱是不够的,因为它只显示光谱的时间积分信息。一种比较有效的方法是观察材料发射光谱的时间动态信息,这就是荧光寿命的测量,即测量材料被脉冲光激发后回到基态的时间,一般是是亚纳秒到毫秒之间,测量结果包含更多的光谱信息,比如在相同的波长上不同的荧光寿命,以及每种所占的比率是多少等。
 

主要特点:
采用高灵敏度的时间相关单光子计数法Ø
时间分辨率高于100psØ

对于溶液样品,制冷温度可达到-196

可测磷光寿命Ø

测量荧光的时间分辨各向异性Ø
荧光光谱的测量

紧凑型设计Ø

简单快速测量²
7
种激发光波长选择
280nm,340nm,365nm,405nm,470nm,590nm,630nm
Ø

分析不同的样品
薄膜,固体,液体,粉末

 

 

典型的应用领域
有机金属复合物
荧光探针
染料敏化太阳能电池
OLED
材料
量子点
LED
荧光粉

 

荧光寿命测量在众多研发领域有着广泛的应用,典型的应用包括有机复合材料分子间的电子移动和能量转移,有机电致发光器件的荧光和磷光测量,荧光探针的荧光共振能量转移,半导体测试等

 

两种型号:

NBET-YG300标准型号300nm800nm

NBET-YG380近红外型号380nm1030nm

规格参数

PL波长测试范围

300nm880nm

380nm1030nm

激发光源

7种波长LED光源(280nm,340nm,365nm,405nm,470nm,590nm,630nm

激发波长转换

软件控制

样品容器

对于液体(标准是10mm²)

荧光寿命测量范围

2.5ns-50us

磷光寿命测量范围

50us-50ms

偏振光测量

磷光激发波长(280nm,340nm,370nm,405nm,445nm,470nm,590nm,630nm

支持紫外光测量(加附件:A11552-02

单色仪

C/T

时间轴选项

 512ch,1024ch,2048ch,4096ch

时间分辨率

1ns(半高宽)

分析功能

荧光寿命分析和光谱分析(达到5种成分)



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