Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K0/白光干涉仪/表面形貌/粗糙度/三维轮廓等测量系统

布鲁克作为三维表面测量与观察的，提供从微观如MEMS（微机电系统）到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代，在原有WYKO® 专有技术基础上，不断积累，来面三维测量所需的高灵敏度和稳定性。 布鲁克公司的光学轮廓仪在基本工作原理及应用方面拥有100多项，有超过30年的生产经验，成熟的生产工艺了布鲁克产品具有的性能。

布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的，服务于科研和生产领域。白光干涉仪ContourGT系列结合了的64位多核操作和分析处理软件，技术白光干涉仪（WLI）硬件和的操作简易性，是历年来来进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中，使用和直观的3D表面计量平台。

应用：

对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等，提供非接触式测量方案，样品从小至微米级别的微机电器件（MEMS），大到整个引擎部件，都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等数据

特征：

的垂直分辨率，大的测量性能；

~200倍的放大倍率；

任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程；

高分辨率摄像头；

测量硬件的设计，增强生产环境中的可靠性和重复性；

较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力

的自动校准能力；

多核处理器下运行的Vision64软件，大大提高三维表面测量和分析速度

数据处理速度提高几十倍；

分析速度提高十倍；

无以伦比的大量数据无缝拼接能力；

高度直观的用户界面，拥有的实用性，操作简便和分析功能强大

优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程；

特的可视化操作工具；

可自行设置数据输出的界面；