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BRUKER-三维光学显微镜

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:ContourX
  • 品牌:
  • 产品类别:干涉仪
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2023-06-25 13:04:58
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北京亚科晨旭科技有限公司

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  • 经营模式:其他
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产品简介

三维光学显微镜布鲁克三维表面测量与观察,提供从微观如MEMS(微机电系统)到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析

详情介绍

三维光学显微镜

布鲁克三维表面测量与观察,提供从微观如MEMS(微机电系统)到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代,在原有Wyko®专有技术基础上,不断积累,来保证面对各种应用环境时三维测量所需的高灵敏度和稳定性;而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。

布鲁克三维光学显微系统在一直以服务和支持著称,在性上一贯良好。从研究型实验室到生产型车间和半导体无尘间,数以几千计的系统被使用。作为为质量控制和研发设计的测量仪器,可用于加工制造类应用的监控,在汽车、航空航天、高亮度LED、太阳能、半导体和科研领域,布鲁克总有一款适合您应用和与预算的三维光学显微测量系统。

ContourX-100 3D光学轮廓仪

粗糙度测量的精简而经济的台式

ContourX-100光学轮廓仪以的为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的。小尺寸系统采用流线型封装,可提供的2D / 3D高分辨率测量功能,并结合了数十年布鲁克白光干涉测量(WLI)技术。具有测量功能的台式系统具有zui的用户友好界面,可直观访问的预编程过滤器库,并用于加工的表面,厚膜和摩擦学应用分析。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头,更新的载物台和新的测量模式,以实现更大的灵活性。您不会发现比ContourX-100更有价值的台式设备。

ContourX-100 3D光学轮廓仪

轮廓GT-K

的计量

ContourX-100轮廓仪是非接触表面计量,表征和成像领域超过四十年的专有光学和行业。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多种分析。ContourX-100在从%到100%的反射率的所有表面情况下都非常坚固。

轮廓X-100

WLI为所有目标提供恒定且的垂直分辨率。

轮廓X-100

ContourX-100手动平台。

的价值和分析

ContourX-100台式机具有成千上万的定制分析功能以及布鲁克简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。硬件和软件相结合,可提供对高通量光学性能的简化访问,超越了同类计量技术。

ContourX-200 3D光学轮廓仪

用于表面纹理计量的灵活台式

ContourX-200光学轮廓仪将的特性,可自定义的选项以及易用性融合,可提供的快速,准确和可重复的非接触式3D表面度量。具有测量功能的小尺寸系统使用较大的FOV 5 MP数码相机和电动XY位移台,可提供毫不妥协的2D / 3D高分辨率测量功能。ContourX-200还配有zui的操作和分析软件Vision64®。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简化的功能,可访问的预编程滤镜和分析库,用于加工的表面,厚膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学应用。ContourX-200具有的Z轴分辨率和精度,在不限制传统共聚焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的情况下,提供了布鲁克白光干涉仪(WLI)技术的所有。

ContourX-200 3D光学轮廓仪

轮廓GT-K

毫不妥协的yi 流计量

基于ContourX-200光学轮廓仪超过四十年的,该轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声,高速,和结果。通过使用多个目标和集成的特征识别功能,可以在各种视野内以亚纳米级的垂直分辨率跟踪特征,从而为非常不同的行业中的质量控制和过程监控应用提供了与比例无关的结果。ContourX-200在从%到100%的反射率的所有表面情况下都非常坚固。

轮廓X-200

WLI为所有目标提供恒定且的垂直分辨率。

轮廓X-200

ContourX-200电动载物台。

的应用分析能力

利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面,ContourX-200提供了数千种定制分析,以提高实验室和工厂车间的生产率。系统新相机提供的更大FOV和电动XY工作台提供的灵活性,为各种样品和零件提供了更大的灵活性和更高的通量。硬件和软件相结合,可提供对ding 级光学性能的简化访问,超越了同类计量功能。

ContourX-500 3D光学轮廓仪

用于3D计量的全自动台式

ContourX-500光学轮廓仪是用于快速,非接触式3D表面度量的的自动化台式系统。该系统集成了布鲁克倾斜/倾斜光学头,可以编程,以在一定角度范围内测量表面特征,同时程度地减少跟踪误差。具有测量功能的ContourX-500具有的Z轴分辨率和精度,并在更小的占地面积下提供了布鲁克白光干涉仪(WLI)落地式机型的所有的优势。利用的用户界面,ContourX-500可以直观地访问的预编程过滤器和分析库。借助其新的USI通用扫描模式,可以轻松地针对的复杂应用定制分析器,从加工表面和半导体工艺的QA / QC计量学到眼科和MEMS器件的R&D表征。

ContourX-500 3D光学轮廓仪

轮廓GT-K

的自动化

布鲁克头部倾斜/倾斜为生产设置和检查提供了的用户灵活性。通过将自动倾斜/倾斜功能与显微镜头中的光路相结合,布鲁克将检测点与视线相结合,而与倾斜无关。这样可以减少操作员的干预,提供zui大的可重复性。此功能与自动登台和物镜相结合,使ContourX-500非常适合“按需测量"的工业需求,而且占地面积小。

轮廓X-500

传统的俯仰和滚动舞台设计需要操作员进行调整

五个运动轴以保持在线的检查点

视线进行测量。头部的布鲁克提示/倾斜

设计在检查点上保持了视线-

不论倾斜度-都能优化图像采集和

zui快的数据记录时间。

轮廓X-500

WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。

的价值和分析

ContourX-500具有成千上万的自定义分析功能以及布鲁克简单易用但功能强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。这种的硬件和软件组合提供了对高可重复性和高通量计量学测量的简化访问,从而超过了同类计量能力。


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