法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M²等进行实时、简便、快速的测量。

PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器--技术优势：

高分辨率的相位图，分辨率可达400ｘ300。

具有直接测量高发散光束的能力

消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。

PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器--应用方向：

激光束质量分析

自适应光学

光学元件表面测量

生物成像

热成像，等离子体表面物理

法国PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器主要型号相关参数：

	SID4 UV HR	SID4 Visible	SID4 Visible HR	SID4 NIR	SID4 SWIR	SID4 IR MCT	SID4 DWIR	SID4 LWIR
波长	190 – 400 nm	400 – 1100 nm	400 – 1100 nm	1,5 – 1,6 µm	0,4 – 1,7 µm	1,2 – 5,5 µm	3 – 5 µm and 8 – 14 µm	8 – 14 µm
孔径	8.0 × 8.0 mm²	3.6 × 4.8 mm²	8.9 × 11.8 mm²	3.6 × 4.8 mm²	9.6 × 7.68 mm²	9.60 x 7.68 mm²	10.08 ×8.16mm²	16 x 12 mm²
空间分辨率	32 µm	29,6 µm	29,6 µm	29,6 µm	60 µm	60 µm	68 µm	100 µm
采样点	250 x 250	160 x 120	300 x 400	160 x 120	160 x 128	160 x 128	160 x 120	160 x 120
精度 (精度)	10 nm RMS	10 nm RMS	15 nm RMS	15 nm RMS	15 nm RMS	75 nm RMS	75 nm RMS	75 nm RMS
分辨率（灵敏度）	0,5 nm RMS	< 2 nm RMS	< 2 nm RMS	< 11 nm RMS	< 2 nm RMS	< 3 nm RMS	25 nm RMS	25 nm RMS
动态范围	> 200 µm	> 100 µm	> 500 µm	> 100 µm	> 100 µm	300 µm	> 100 µm	> 100 µm
采样频率	30 fps	> 100 fps	> 30 fps	60 fps	120 fps	140 fps	> 50 fps	40 fps