涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042

产品描述

根据探头，带有清晰排列显示屏的手持式设备可确定可磁化基板上非磁性层的厚度（根据 DIN EN ISO 2178）和非磁性导电基材上非导电层的厚度使用涡流原理（根据 DIN EN ISO 2360）。

外部探头有多种型号可供选择，因此可以解决多样化的测试问题。

关键事实

• 的校准选项

• 多种显示模式，可适应测量任务

• 极限值输入和监控

• 测量值存储，与 Windows 下一样易于处理的文件管理

• 的统计评估选项

• 可选择使用 PC 程序iCom或EasyExport将数据传输到 Windows 程序

取决于扩展阶段

版本

LEPTOSKOP 2042（订货号：2042.001）

设备扩展阶段

• 模块“统计"（订货号：2911.001）

• 模块“统计和数据存储器"（订货号：2911.002）

标准套餐

• Fe Basic Package（订货号：2042.901）

• NFe 基本包（订货号：2042.902）

• Fe/NFE 基本包（订货号：2042.904）

统计包

• 统计包 Fe（订货号：2042.911）

• 统计包 NFe（订货号：2042.912）

• Fe/NFe 组合统计包（订货号：2042.914）

数据包

• 数据包 Fe（订货号：2042.921）

• 数据包 NFe（订货号：2042.922）

• Fe/NFe 组合数据包（订货号：2042.924）

LEPTOSKOP 2042 装在坚固的保护壳中