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alnair-日本的快速色散测量系统的核心技术与性能特点

2026年06月09日 23:54:40      来源:精密制造 >> 进入该公司展台      阅读量:19

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alnair-日本,Alnair Labs公司初是为促进东京大学光子技术的商业化,而成立于1991年。目前,Alnair Labs 基于碳纳米管光子技术超短脉宽激光系统的制造商和方案解决方。
 
alnair-日本核心技术与产品
Alnair Labs 研发出了第一个以碳纳米管(CNT)作为饱和吸收体的超短脉冲被动锁模光纤激光器,并以此为基础开发了全光采样示波器等产品。其主要产品和技术解决方案包括:
1.高级测量测试仪器:如超高速全光采样示波器、误码测试仪(如28Gbps的BERT-250E-4CH)、码型发生器等。
2.各类激光器:包括紧凑型光纤飞秒激光器(如PFL-200)、窄线宽激光器、可调谐激光器等。
3.工业与光通信器件:光纤放大器、光滤波器、非接触式电磁场传感器、工业用非接触式3维激光测量仪,以及用于硅晶片的全光学非接触式厚度传感器(如SIT-200)等。
 
alnair-日本快速色散测量系统的核心技术与性能特点
1.超高解析度与精度:具备较高的群延迟(group delay)解析度(< 0.05 ps),并能精准解决小于 100fs 的群延迟差问题。
2.超高速测量能力:支持高达每秒 1000 次的测量速度,相位偏移调制模式最高可达 10GHz。
3.高精度时钟标准:内置高精度铷时钟标准,确保测量数据的绝对准确性。
4.广泛的兼容性:设备可以兼容市面上大多数其他厂商生产的可调谐激光器。
 
主要测试功能
alnair-日本的快速色散测量系统拥有友好的软件操作界面,能够全面测量并展示多种关键的光学偏振与色散数据,具体包括:
1.色散(Dispersion)与偏振色散(PMD)
2.功率与插入损耗
3.偏振相关损耗(PDL)
4.主要的偏振状态(采用 JME 测试方式进行测量)
 
主要应用领域
1.光纤参数的全面检测
2.被动光学器件的性能检测
3.各类光相关参数的检测与分析
 

 

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