如何用方法测试无源晶振是否起振？

一、用万用表测试（只能判断好坏，不能判断振荡是否正常）

无源晶振（XTAL）本质上是一个无源压电元件，万用表无法测量它的振荡情况，但可以做简单的通断性检查：

• 测试方法 ：二极管档（或电阻档）测量两端阻值；

• 将万用表拨到 二极管档（或 20MΩ 电阻档）；

• 分别测量晶振两端的阻值。

阻值接近无穷大（OL），因为晶振是一个无源谐振器，静态时不会导通。如果阻值很小（如几十欧姆），说明晶振可能短路损坏。

二、用示波器测试

测试方法 ：

• 示波器探测MCU / FPGA 的 XTAL_OUT引脚。不建议直接测量晶振两端（XTAL_IN & XTAL_OUT），可能会干扰振荡；

• 上电运行 MCU 或 FPGA，让晶振工作；

• 使用示波器探头（10x探头）测量XTAL_OUT 引脚，避免探测 XTAL_IN 引脚（该端信号较弱）,带宽限制 ≤20MHz 以减少噪声。

观察波形：

正确起振时，波形应呈现近似正弦波，峰峰值 0.2V ~ 1V，频率等于晶振标称频率。由于MCU 内部有反馈放大器，信号可能会被削顶，形成畸变正弦波。