电子天平的日校要做几个点、各几次称量？

    再次强调日校的目的不是考查准确性，而是考查天平是否发生了漂移，所以所谓多点的日校是没有意义的。理想状态下，就是砝码重量与测量值的函数呈一条斜率为1的直线，只不过是不经过原点，这个截距就是天平的漂移值，也就是线跑偏了。

    日校也不是做精密度，所以也没有必要做那么多次，但为了发现问题，三次称量是有必要的。

日校要做四角吗？

这部分工作在确认时作一般就可以了，除非有异常发生。相信不会有人在使用天平时，可着一个角去“造"。

日校砝码的选择和砝码的计数？

日校砝码应选择合适精度的砝码，以确保其精度和不确定度不影响天平的日校。一般万分之一及更高精度的天平宜选择E2级砝码，千分之一到克级天平可选择F1到F2级砝码，生产系统可使用M级砝码。

砝码宜选择日常经常称量的重量，如果你一定要有个范围的话，可以使用日常的zui大和zui小重量。

而对于砝码是按标示值去计，还是按照检定值去计，可以说使用检定值一定是没有问题的，但在砝码zui大允许误差远小于日校范围时，则没有必要使用检定值了，标示值则更利于计算和判定。

日校和校准哪个在先？

有个错误的操作是，有人在做日校时，首行了校准。那么他的zui大问题是，他可能会掩盖了两次日校之间天平已经发生了偏离的可能性。所以正确的操作是，只有当系统发生了偏离，且这个偏离是你所不希望的（不是不可接受的），这时你就要做校准了，校准之后再重新做日校。