泽攸台阶仪，作为一款由泽攸科技研发的高精度检测装置，具备显著的技术特点和广泛的应用领域。以下是关于泽攸台阶仪的详细介绍：
产品概述：
1.泽攸台阶仪是一种能够在纳米和微米尺度上探测样品表面三维形貌的装置。
2.拥有高精度和高分解能力，配合一体花岗岩结构，提供稳定可靠的重复性测量。
3.提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像，方便定位特征区域，并实时观察扫描区域。
1.半导体制造：用于监控工艺质量，精确测量薄膜材料的厚度和表面形貌。
2.材料科学：表征材料形貌，分析薄膜应力等物理参数。
3.生命科学：分析组织和细胞表面等。
产品特点：
1.高精度和高分解能力：采用先进的LVDT线性位移传感器，具有高垂直分辨率和重复性。
2.探针更换方便：配备标配的探针更换工具，保证探针更换的安全和迅速性。
3.软件系统智能化：搭载智能化软件系统，提供可视化工作流程和各种自助设定功能。
配套软件：
提供完整的配套软件，方便用户进行数据收集和分析。
市场影响：
1.泽攸科技是一家具有自主知识产权的先进装备制造公司，致力于成为国际1流的纳米技术全产业链设备及解决方案供应商。
2.其台阶仪等产品经过众多企业验证，现已进入大规模量产阶段，并远销海外，享有高度好评。
