涡流法方阻测试仪的测试原理和操作步骤
涡流法方阻测试仪主要利用涡电流测试原理，非接触测试半导体材料，石墨烯，透明导电膜，碳纳米管，金属等材料的方阻（电阻率）。
可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。
特点
本仪器为非接触，非损伤测试，具有测试速度快，重复性佳，测试敏感性高，可以直接测试产品片。
涡流法方阻测试仪的具体步骤：
准备阶段：确保测试环境稳定，避免强磁场或电磁干扰源的影响。准备好待测样品，并清洁其表面以确保良好的测试接触。检查测试仪器的电源、探头连接线以及显示屏是否正常工作。
校准仪器：在进行任何实际测量之前，需要对测试仪器进行校准。这通常涉及使用已知电阻值的标准样品来调整仪器，以确保读数的准确性。
设置参数：根据待测材料的特性和测试要求，设置适当的测试频率、电流强度等参数。这些参数的选择将影响测试结果的准确性和可靠性。
放置样品：将待测样品放置在测试台上，并确保其与测试探头之间的接触良好且稳定。对于某些特定形状或尺寸的样品，可能需要使用夹具或固定装置来保持其位置。
开始测量：启动测试仪器，并观察显示屏上的读数。在测量过程中，应保持稳定的环境条件，并避免对样品或测试探头施加任何外力或振动。
记录数据：当测试完成后，记录下测试结果。如果需要多次测量以提高准确性，可以重复上述步骤并计算平均值。
分析结果：根据测试结果和已知的材料特性，分析材料的导电性能。如果结果与预期不符，可能需要重新检查测试过程或考虑其他可能的影响因素。
结束测试：关闭测试仪器并断开电源。清理测试区域，并将仪器和样品放回原位。
