广告招募

当前位置:全球资源网 > 技术中心 > 使用手册

x荧光镀层测厚仪作业原理和优势说明

2024年10月24日 15:55:20      来源:精密制造 >> 进入该公司展台      阅读量:15

分享:

   x荧光镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度,以及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量的检测仪器。仪器广泛运用于工业生产测厚中,包含钢板厚度、卷皮带厚度等,当然在实验室精细测量中也有运用,包含航空航天、科研开发等范畴。
  x荧光镀层测厚仪作业原理:
  测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
  1、磁性法:当测量头与覆盖层接触时,测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度;
  2、涡流法:利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测量头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测量头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
  产品优势:
  1、对于压敏胶,涂布/纸加工,烟草薄片,水性涂层,热熔胶等材料,本产品拥有非接触测量的优势;
  2、在保证测量速度的基础上,本产品能够将被测物微小的厚度变化完整地呈现出来;
  3、本产品能拥有*的重复性,预计GRR能够达到5%左右。
版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:全球资源网"的所有作品,版权均属于兴旺宝装备总站,转载请必须注明兴旺宝装备总站。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。