局部放电检测仪测试原理

在某些情况下，局部放电可能存在数月甚至更长时间。每次局部放电都会对设备的绝缘造成一定程度的损坏，而且损坏会逐渐累积。当累积损坏足够大时，会击穿绝缘介质，造成短路，设备损坏。局部放电的大小本身并不表示设备发生故障的危险，但在评估局部放电对设备的影响之前，必须了解局部放电的原因。

GIS中的局部放电总是发生在充满高压SF6气体的很小间隙中，局部放电的存在时间很短（纳秒级），会迅速衰减并湮灭。由于 GIS 室的共振，PD 放电脉冲的快速上升前沿包含频率高达 1GHz 的电磁波，从而产生多种模式的超高频共振电磁波（UHF 波）。由于GIS室就像一个低损耗的微波谐振室，PD信号的振荡波可以在室内延伸长达1 ms，这是安装在GIS上的内置/外置耦合器所要求的。

内部/外部耦合器有足够的时间来捕捉这些信号。耦合器捕获的局放信号强度很低，只有mv级。但经过局部放电放大后，使用PD人工智能分析软件对其进行多方面分析，判断GIS可能存在的缺陷。在GIS设备上检测到局部放电并通过波形分析确定缺陷类型后，需要定位局部放电的位置进行维修。PD的定位是通过精确监测PD信号从不同方向到达耦合器的时间差来实现的。

超高频局放检测仪使用的超高频电磁波工作频率为500-1400MHz，可以通过断路器传播。由于衰减和散射，超高频电磁波在传播 1 m 时会损失大约 2dB 的能量。因此，为了获得准确的测量结果，必须沿 GIS 至少每 20 m 进行一次测量。

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