屏蔽罩的功能决定着电子产品的性能，如果平整度不足则容易导致电子产品的性能减弱或者导致电子元件受损，所以屏蔽罩需要高精度测量来确保自身的品质。屏蔽罩能帮助电子元件隔绝外界电磁场的干扰之外，还能减弱元器件自身的电磁辐射扩散，也承担了一部分散热的功能，如果屏蔽盖的平整度没有严格控制，很容易就会出现挤压元器件或者抗干扰以及散热功能的缺失。屏蔽罩体积较小厚度较薄，稍加应力就有可能会造成其弯曲，使得屏蔽罩的平整度测量过程十分困难，使用常规的工具无法在不伤害屏蔽罩表面的情况下进行平整度的测量，异形的屏蔽罩也无法使用，所以测量屏蔽罩较为理想的方法是使用激光平整度测量仪来完成。

海科思激光平整度测量仪采用高精度激光测头对屏蔽罩表面进行扫描取点，以获取屏蔽罩表面的轮廓数据，再以此做平整度、平面度及翘曲度计算，高运算快速测量能力100mm以内产品可达0.5秒测量一片，在无损高精度测量的同时保证率。平面度平整度测量仪除了适用于屏蔽罩平整度测量外，还适用于玻璃行业、手机外壳及中层板行业、、铝板等金属板行业、汽车配件行业、PCB线路板行业、电子行业等各类零件的平面度、翘曲度检测，如需了解关于该设备的更多参数欢迎致电海科思全国服务热线：