LCP薄膜是一种特殊的绝缘材料，具备低吸湿、耐化性佳、高阻气性以及低介电常数等特性，也是的5G信号天线的绝缘材料。LCP具有优异的电学特征，在高达110GHz的全部射频范围，几乎能保持恒定的介电常数，一致性好；正切损耗非常小，仅为0.002，即使在110 GHz时也只增加到0.0045，非常适合毫米波应用；热膨胀特性非常小，可作为理想的高频封装材料。由于要兼顾5G基站的的功能性以及安全性，LCP薄膜必须兼顾低损耗以及较强的导热性，所以LCP薄膜的厚度要求十分苛刻，膜厚要达到75μm以下才适用于5G的建设中，所以使用上下激光测厚仪进行LCP薄膜是理想的选择。

这个说法并非空穴来风，一般的测厚工具面对LCP这类拥有柔软以及有弹性的产品都会束手无策，无法精确的获得LCP薄膜厚度，双激光厚度测量仪无需接触到LCP表面更不会对其表面施加压力来测量，仅需要将薄膜放置在测量台就能实时的获得高精度厚度数据，还不会划伤薄膜表面，是一个省时省力的高精度测量设备。激光测厚仪操作简单无需培训既能轻松操作，无论是抽检还是全检都能高效率的完成，设备体积小、质量轻、方便携带，可连接电脑测量数据可输出到表格方便后续查阅，是LCP薄膜生产企业的得力测量助手。

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