• 单机内建高电压耐压测试与PD侦测功能
• 可程式交流电压~10KVac
• 高精度及高解析度电流表~300uA
• 局部放电(PD)侦测范围1 pC~2000 pC
• 高压接触检查功能(HVCC)
• 符合IEC60747-5-5与IEC 60270-1法规测试要求
• 内建IEC60747-5-5测试方法
• 三段电压测试功能
• PD测量结果数字化显示(pC)
• PD不良发生判定次数设定(1~10)
• 繁中/简中/英文操作介面
• USB画面撷取功能
• 图形化辅助编辑功能
• 标准LAN, USB, RS232远端控制介面

Chroma 19501-K 局部放电测试器结合高电压耐压测试与局部放电(Partial Discharge)侦测功能于一单机，提供交流电压输出10kV，漏电流量测范围从~300uA，局部放电侦测范围最小可侦测1pC放电量，针对高压半导体元件及高绝缘材料测试应用所开发。产品设计符合IEC 60270-1与IEC60747-5-5法规要求，同时内建IEC 60747-5-5法规之测试方法在仪器内部，满足光耦合器产品生产测试需求，并提供给使用者一个便利操作介面.

在生产线上执行高压测试时，如果被测物未能正确及良好连接测试线，将导致测试结果失败甚至是漏测的风险。因此，在测试前确保被测物与测试线良好连接是非常重要的。 Chroma 之HVCC高压接触检查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查，提升其测试可靠度与效率。