布鲁克 Bruker 三维光学轮廓仪
ContourSP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术，使高密度互连 PCB（HDI-PCB）基板的测量效率比上一代白光干涉（WLI）仪器增加了一倍以上。该系统专用于在制造过程中测量 PCB 面板的每一层，融入了一大批*测量功能，大幅提升半导体封装行业的量产性能、便利性、可靠性和效率。具有计量功能的 ContourSP 采用简单易用的生产界面，通过用户自定义输入，实现快速、便捷的基准点对齐。
深圳市科时达电子科技有限公司
免费会员
Product Display
布鲁克Bruker三维光学轮廓仪ContourSP大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术，使高密度互连PCB（HDI-PCB）基板的测量效率比上一代白光干涉（WLI）仪器增加了一倍以上
布鲁克 Bruker 三维光学轮廓仪
ContourSP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术，使高密度互连 PCB（HDI-PCB）基板的测量效率比上一代白光干涉（WLI）仪器增加了一倍以上。该系统专用于在制造过程中测量 PCB 面板的每一层，融入了一大批*测量功能，大幅提升半导体封装行业的量产性能、便利性、可靠性和效率。具有计量功能的 ContourSP 采用简单易用的生产界面，通过用户自定义输入，实现快速、便捷的基准点对齐。
请选择省份
请输入账号
请输入密码
请输验证码
全球资源网 设计制作，未经允许翻录必究 .Copyright(C) https://www.qqzyuan.com,All rights reserved.
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，全球资源网对此不承担任何保证责任。
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。